Data model patterns [Book :]a metadata map / David C. Hay.
Von: Hay, David C.
Materialtyp:
BuchReihen: The Morgan Kaufmann series in data management systems. Verlag: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann, c2006Beschreibung: xx, 406 p. : ill. ; 25 cm.ISBN: 0120887983 (pbk. : alk. paper); 9780120887989.Schlagwörter: Data warehousing | MetadataDDC-Klassifikation: 005.74 Online-Ressourcen: Table of contents | Publisher description
| Medientyp | Aktueller Standort | Signatur | Exemplarnr. | Status | Fälligkeitsdatum |
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Books
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6october 1105 | 005.74H D (Regal durchstöbern) | 1 | Verfügbar |
Includes bibliographical references (p. 391-394) and index.
All Ages.
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