Multiple-beam interferometry of surfaces and films, [[Book] /] S. Tolansky.
Von: Tolansky, S. (Samuel).
Materialtyp:
BuchVerlag: New York, : Dover Publications, [1970]Beschreibung: vi, 186 p. : illus. ; 22 cm.ISBN: 0486622150.Schlagwörter: Interferometry | Surfaces (Technology) | MetallographyDDC-Klassifikation: 535.4
| Medientyp | Aktueller Standort | Signatur | Exemplarnr. | Status | Fälligkeitsdatum |
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Books
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6october 1104 | 535.4 TM (Regal durchstöbern) | 1 | Verfügbar |
Bibliography: p. 184.
All Ages.
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